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[ 求购]分立器件时间参数测试系统

时    间:2014-01-08

数    量:10

目标价:¥1.0000

品    牌:励芯泰思特

详细信息

BC3193TM 分立器件时间参数测试系统用于半导体二极管、三极管、MOS管、光耦等器件的开关时间参数测试。可用于各类整机厂家、科研院所的质量检测部门进行入厂检验、可靠性分析。

系统特点

◆  PC机为系统的主控机            

  菜单式测试程序编辑软件操作简便

  正负脉冲激励源

  美国Lecroy 400M存储示波器用于时间测量,最   小时间测量分辨率200pS

  通过IEEE488接口连接校准数字表传递国家   计量标准对系统进行校验

  系统终身技术支持

 

测试参数

开启时间Ton;关断时间Toff;延迟时间Td;存储时间Ts;上升时间Tr;下降时间Tf等参数。

 

测试系统软件

菜单式测试程序编辑软件;诊断软件;校准软件

 

测试系统硬件基本配置

联想计算机一台:Windows操作系统、PCI插槽1个以上;

计算机接口板(CPUINT)一块;

系统接口板(SYSINT)一块含GPIB接口;

数据采集板(VM)一块:16ADC16X256 RAM

北京励芯泰思特测试技术有限公司

联系人:范艳伟

手机:18911843937

座机:
86-010-82003193802
地址:
北京市海淀区北三环中路31号泰思特大厦1号楼

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