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BC3193TM 分立器件时间参数测试系统用于半导体二极管、三极管、MOS管、光耦等器件的开关时间参数测试。可用于各类整机厂家、科研院所的质量检测部门进行入厂检验、可靠性分析。
系统特点
◆ PC机为系统的主控机
◆ 菜单式测试程序编辑软件操作简便
◆ 正负脉冲激励源
◆ 美国Lecroy 400M存储示波器用于时间测量,最 小时间测量分辨率200pS
◆ 通过IEEE488接口连接校准数字表传递国家 计量标准对系统进行校验
◆ 系统终身技术支持
测试参数
开启时间Ton;关断时间Toff;延迟时间Td;存储时间Ts;上升时间Tr;下降时间Tf等参数。
测试系统软件
菜单式测试程序编辑软件;诊断软件;校准软件
测试系统硬件基本配置
联想计算机一台:Windows操作系统、PCI插槽1个以上;
计算机接口板(CPUINT)一块;
系统接口板(SYSINT)一块含GPIB接口;
数据采集板(VM)一块:16位ADC,16X256 RAM;