LX9600分立器件动态参数测试系统是由北京励芯泰思特测试技术有限公司自主研制、开发、生产的半导体分立器件动态参数测试的专用设备,通过使用不同类型的测试头对半导体器件进行非破坏性瞬态测试。用于MOSFET、IGBT、快恢复二极管、双极型三极管的动态参数测试。测试原理符合相应的国家标准、国家军用标准，系统为模块化、开放式结构，具有升级扩展潜能。

测试能力

测试电压：最大600V/150A

时间测量精度：最小1nS

实时漏极电流监测

电流能力可根据用户需求适当扩展

配置测试头

开关时间特性测试头

栅电荷量测试头

二极管Trr/Qrr测试头

系统特点

◆  测试头可更换适用于不同参数测试

◆  测试头可根据用户需求更换或者扩展

◆  自动化测试不同参数

◆  PC机为系统的主控机

◆  可为用户提供丰富的测试适配器，为用户定制专用测试电路

◆  菜单式测试程序编辑软件操作简便

◆  自动保存测试波形和数据表单

◆  可编程分BIN功能，Prober接口、Handler接口可选

◆  美国Lecroy高带宽数字化示波器，最小时间测量分辨率200pS

◆  正负高速脉冲激励源

◆  漏极电压达600V

◆  漏极电流达150A