电子元器件周期检验是在规定的周期内，从逐批检验合格的某个批或若干批中抽取样本，并施加各种应力的各项试验，然后检测产品判断其是否符合规定要求的一种检验。其主要内容包括：

1.	周期规定、检验分组和样品；
2.	检验项目和程序；
3.	周期检验缺陷分类和失效判据；
4.	周期检验结果判定和处置。

　　1.周期规定、检验分组和样品

　　（1）检验周期规定：根据产品的特性及生产过程质量稳定的情况，再综合考虑其他的因素，适当地规定检验周期。产品标准中一般都给出了该产品在正常稳定生产情况下进行周期检验的时间间隔（如三个月，六个月，一年等），但对不同的检验组，规定不同的检验周期。

　　（2）检验分组与样品：电子元器件周期检

　　验分为C组和D组，C组为环境试验，D组为耐久性寿命试验。周期检验的样品，应根据产品标准中规定的抽样方案和检查水平及规定的样品数，从本周期内经逐批检验合格的一个批或几个批中随机抽取，加倍或二次试验的样品在抽样时一次取足。

　　2.检验项目

　　（1）常温性能检查：试验前在正常工作的条件下，对被试样品进行定性和定量检查，判断产品质量是否全面符合产品技术标准和国家标准要求，或符合订货合同的规定。由于电子产品种类多，用途广，表征产品特性的技术参数很多，常温性能检测时，应严格按照技术标准规定，进行全部指标或部分指标检测，检测合格的产品方可进行周期检验项目中的其他项目的试验。

　　（2）环境试验：为了评价在规定周期生产批的产品的环境适应能力，将经过性能检测合格的产品，在人工模拟的环境条件下试验，以此评价产品在实际使用、运输和贮存环境条件下的性能是否满足产品定型鉴定检验时达到的环境适应能力。

　　环境试验包括高温负荷贮存试验、低温负荷贮存试验、高低温变化试验、交变湿热和恒定湿热试验、低气压试验、振动试验、冲击碰撞、跌落、加速度试验、盐雾试验等。由于电子产品使用环境不一样，在周期环境试验中，规定的环境试验项目可能是单项试验，也可能是组合或综合试验。

      3.周期检验缺陷分类和失效判据；

（1）在一个周期试验组中发现一个致命缺陷，则判该试验组不合格。

（2）若在试验样品中发现的不合格品数小于或等于合格判定数，则判该试验组合格。若试验中的不合格判定数大于或等于不合格判定数，则判该试验组不合格。

（3）本周期内，所有试验分组都合格，则本周期检验合格。否则就判该周期检验不合格。

（4）周期检验不合格，该产品暂停逐批检验。已生产的产品和已交付的产品由供需双方协商解决，并将处理经过记录在案。

（5）周期检验不合格，供方应立即查明原因，采取措施。需方在供方采取改进措施后，在重新提交的产品中抽样，对不合格试验项目或试验分组重新试验，直至试验合格后，供方才能恢复正常生产和逐批试验。

　　4.周期检验结果判定和处置

　　电子元器件质量一致性检验结果是通过逐批检验结果和周期检验结果是否合格来判定的。逐批与周期检验结果合格，可认为该元器件的鉴定批准得以维持。但如果检验不合格，即没有通过质量一致性检验，或没有正确地执行标准规范要求和IECQ的程序规则时，则鉴定批准应予暂停或撤消。

　　总而言之，逐批检验的抽样检验方式在电子元器件产品生产检验中广泛采用，正确掌握和使用抽样检验技术，对生产实际过程的产品质量控制有很直接明显的作用。周期检验对产品的质量在模拟的环境条件下进行试验检查。产品标准规定了各种试验项目和所采用的试验方法及检测技术，从而为产品质量一致性和稳定性提供保证。通过由逐批检验和周期检验所构成的质量一致性检验，能客观全面地反映产品在生产过程中和各种不同使用环境条件下的质量状况，从而达到在生产过程中控制产品质量并在规定的周期内，保证产品质量保持在鉴定批准时达到的质量水平。